Au（111）取向膜的制备与结构表征

在羊晶硅Ｓｉ（１１１）上，通过电子束蒸发沉积方法制备Ａｕ（１１１）取向膜，用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）、Ｘ－射线光电子能谱（ＸＰＳ）和原子力显微镜（ＡＦＭ）分析在征Ａｕ（１１１）膜的表面微结构和表面晶格取向的原子图像。实验结果表明，在超高真空的条件下，控制优化实验条件能制备高度取向的Ａｕ（１１１）膜，这在分子自组装技术中起着关键作用，在纳米薄膜材料科学中具有重要意义。     

硫醇在Au表面的SA膜的AFM观察

采用电子束蒸发沉积方法制备的Ａｕ基片，分别放在０．００１Ｍ的正丁硫醇、正十二硫醇的纯溶液和混合溶液中，通过化学吸附制备得到自组装单分子层膜。利用原子力显微镜（ＡＦＭ），对正丁硫醇、正十二硫醇以及两种硫醇混合物在Ａｕ基片上的自组装单分子层膜进行了观察研究。从原子分辨的ＡＦＭ图像观察三种分子膜的周期性六边形等间距排列图像，最邻近间距分别为０．５０ｎｍ±０．０２ｎｍ、０．５２ｎｍ±０．０３ｎｍ和０．５１ｎｍ±０．０３ｎｍ，与Ａｕ（１１１）晶格表面上的间距为０．５０ｎｍ的Ｒ３０°吸附层的间距一致。用ＡＦＭ观察测量出了膜的厚度分别为０．６７ｎｍ、１．６０ｎｍ和１．３２ｎｍ。