| 基于彩色图像处理与EDLines的数码印花缺陷检测系统 |
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| 引用本文： | 黄乾玮,张团善,周玲,汤锋,李乐乐.基于彩色图像处理与EDLines的数码印花缺陷检测系统[J].华南农业大学学报(社会科学版),2021,39(4):74-79. |
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| 作者姓名： | 黄乾玮 张团善 周玲 汤锋 李乐乐 |
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| 作者单位： | 1.西安工程大学 机电工程学院， 陕西 西安710048；2.绍兴市柯桥区西纺纺织产业创新研究院， 浙江 绍兴312030 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金（61701384）；西安市现代智能纺织装备重点实验室资助项目（2019220614SYS021CG043）。 |
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| 摘 要： | 针对数码印花生产过程中由于喷头堵塞、电机偏差引起的PASS道缺陷问题，课题组设计了一套基于彩色图像处理与EDLines的数码印花缺陷检测系统。首先构建颜色补偿矩阵覆盖无关背景花案，增强缺陷与主色间差异性；然后分别在HSI颜色空间3通道采用自定义线型滤波锐化感兴趣区域并基于EDLines实现缺陷配准，并将3通道缺陷匹配结果进行区域融合和形态学处理；最后根据水平投影实现PASS道缺陷定位。实验结果表明：检测系统对印花织物表面缺陷的检测准确率达到96%以上，满足实际检测要求，为数码印花缺陷检测提供新的方法。
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| 关 键 词： | 缺陷检测 颜色空间 颜色补偿 EDLines |
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