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| 稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论 | |
| 引用本文： | 沈建琪,王乃宁.稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论[J].上海理工大学学报(社会科学版),1998(2):130-134. |
| 作者姓名： | 沈建琪 王乃宁 |
| 作者单位： | [1]上海理工大学基础部 [2]上海理工大学动力工程学院 |
| 摘 要： | 在经典Ｍｉｅ散射理论基础上，讨论全方位稳态光散射法激光测粒仪测量粒径的下限及其影响因素，认为通过减小激光测粒仪的系统误差和增大探测的散射角范围，可降低测粒仪的测量下降。 |
| 关 键 词： | 激光测粒仪 稳态光散射 测量下限 全方位测量 |
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