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我国高精度纳米分辨率线位移测量技术获新突破近日从吉林省科技厅了解到,由长春光机所承担的应用基础研究项目——“高精度纳米分辨率线位移测量技术研究”,日前在长春通过专家鉴定。鉴定委员会专家一致认为,该项研究所制成的高精度纳米测量传感器样机达到四倍光学倍频,技术指标达到国际先进水平。据介绍,线位移尺寸测量是精密加工制造