| 镜像法高温超导薄膜表面电阻测试装置的改进 |
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| 引用本文： | 曾成,罗正祥,张其劭,羊恺.镜像法高温超导薄膜表面电阻测试装置的改进[J].电子科技大学学报(社会科学版),2009(2). |
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| 作者姓名： | 曾成 罗正祥 张其劭 羊恺 |
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| 作者单位： | 电子科技大学微波测试中心; |
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| 基金项目： | 国家863计划(TC265-0304) |
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| 摘 要： | 介绍了一种新的镜像法高温超导薄膜微波表面电阻测试装置,采用小孔对谐振腔内的电磁能量进行耦合,并通过一段6mm×3mm×8mm的填充氧化铍陶瓷介质的波导对电磁能量进行传输,通过在陶瓷块剖面焙银的方法实现磁耦合。与以往的镜像法测试装置相比,该装置易于仿真和制作。使用该装置对两片高温超导薄膜的微波表面电阻进行了测试,并对其中一片高温超导薄膜进行了6次微波表面电阻重复性测量,其表面电阻值RS(10GHz,77K)的平均值为0.38mΩ,标准偏差为0.009mΩ,相对偏差(COV)为2.4%。测试结果表明,该装置具有良好的稳定性。
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| 关 键 词： | 高稳定性 高温超导薄膜 陶瓷焙银 微波表面电阻值测试 |
Improvement of Image Method for Measuring the Microwave Surface Resistance of HTS Thin Film |
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| ZENG Cheng,LUO Zheng-xiang,ZHANG Qi-shao, YANG Kai.Improvement of Image Method for Measuring the Microwave Surface Resistance of HTS Thin Film[J].Journal of University of Electronic Science and Technology of China(Social Sciences Edition),2009(2). |
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| Authors: | ZENG Cheng LUO Zheng-xiang ZHANG Qi-shao YANG Kai |
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| Institution: | Microwave Center;University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | high stability HTS roasting silver on ceramic surface resistance R S measurement |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
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