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| 红外对管检测装置 | |
| 引用本文： | 吴正光. 红外对管检测装置[J]. 广州师院学报, 1996, 0(1): 79-83 |
| 作者姓名： | 吴正光 |
| 作者单位： | 广州师范学院物理系，510400 |
| 摘 要： | 本文提出了一种在工厂装配线上对成批的近红外线发光二极管和光电二极管进行筛选的工艺，并为此设计了一台实用的检测装置。 |
| 关 键 词： | 红外对管 检测装置 筛选 特性下限值 近红外发光二极管 近红光电二极管 |
Testing Device for Infrared Emitting Diode and Photodiode |
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| Wu Zhengguang. Testing Device for Infrared Emitting Diode and Photodiode[J]. , 1996, 0(1): 79-83 | |
| Authors: | Wu Zhengguang |
| Abstract: | In this paper, the method for selecting infrared emitting diodes and photodiodes in the assembly line is presented. the testing device based on the method is designed. |
| Keywords: | Infrared emitting diodeand photodiode Testing device Selection Characteristic lower limit |
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