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A spline‐based semiparametric sieve likelihood method for over‐dispersed panel count data
Authors:Lei Hua  Ying Zhang  Wanzhu Tu
Affiliation:1. Vertex Pharmaceuticals, Inc., Boston, MA, USA;2. Department of Biostatistics, Indiana University, Indianapolis, IN, USA
Abstract:
Keywords:Counting process  Gamma‐Frailty  Monotone B‐splines  over‐dispersion  panel count data  semiparametric model  MSC 2010: Primary 62G10  secondary 62N01
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