首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

Ta: SnO2薄膜的制备与性能研究
作者姓名:秦国强  封雅宏  张光磊  杨亮亮  张娟娟  马岳峰
作者单位:石家庄铁道大学 材料科学与工程学院;石家庄市张石高速公路筹建处;石家庄铁道大学 材料科学与工程学院;石家庄铁道大学 材料科学与工程学院;石家庄铁道大学 材料科学与工程学院;石家庄铁道大学 材料科学与工程学院
基金项目:河北省自然科学基金(E2011210009);石家庄市科技支撑项目(11107313A);石家庄铁道大学科研启动项目(8110088)
摘    要:SnO2作为一种典型的宽带隙半导体材料具有许多优异的物理和化学性质,例如极高的电子电导率、可见光透过率和化学稳定性,因此广泛用于光电材料、太阳能电池和气敏材料等各领域。采用溶胶 凝胶法在玻璃基片上制备了Ta掺杂SnO2透明导电薄膜,其中Ta含量在8 atom.%左右。Ta:SnO2薄膜的表面形貌较平整,但由于局部应力使薄膜出现了细小的断裂。Ta:SnO2薄膜为金红石结构,结晶程度较高,由于Ta5+、Sn4+离子半径接近,Ta原子溶入SnO2的晶格中置换Sn原子位置形成了稳定均一的固溶体结构,因此没有第二相出现,但是其晶格常数略有变化。

关 键 词:溶胶凝胶法  Ta 掺杂SnO2  光学和电子性质
收稿时间:2012-11-12
点击此处可从《石家庄铁道学院学报(社会科学版)》浏览原始摘要信息
点击此处可从《石家庄铁道学院学报(社会科学版)》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号