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| 运用表面光电压技术对半导体表面光电特性的研究 | |
| 引用本文： | 刘向阳,张振龙.运用表面光电压技术对半导体表面光电特性的研究[J].鲁东大学学报,2003,19(1):64-67. |
| 作者姓名： | 刘向阳 张振龙 |
| 作者单位： | 河南大学特种功能材料重点实验室，河南大学物理与信息光电子学院 河南开封 475001，河南开封 475001 |
| 摘 要： | 对运用表面光电压技术(SPS)对半导体材料光电性质的研究进行了综述,系统阐述了表面光电压谱(SPS)和场诱导表面光电压谱(FISPS)在测定半导体类型、表面态及其能级位置、表面电荷分布、半导体的能带隙等方面所表现出的优越性质.研究了半导体能带隙所表现出的特有性质. |
| 关 键 词： | 半导体 表面 界面 性质 表面光电压谱 场诱导表面光电压谱 |
| 文章编号： | 1004-4930(2003)01-0064-04 |
| 修稿时间： | 2002年7月25日 |
Study on surface photovoltaic properties of semiconductor by surface photovoltage spectroscopy |
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| Abstract: | |
| Keywords: | semiconductor surface interface properties surface photovoltage spectroscopy field-induced surface photovoltage spectroscopy |
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