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高精度轨迹生成是实现高精度轨迹控制的基础.本文以高分辨率、高采样频率和粗精插补合一的多功能采样插补生成刀具希望轨迹.为了克服常规全闭不位置控制系统存在的缺陷、一经过多年探索,我们研究出一种新的转角一线位移双闭环位置控制方法.该系统的特点是:整个系统由内外两个位置环组成.  相似文献   
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