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在羊晶硅Si(111)上,通过电子束蒸发沉积方法制备Au(111)取向膜,用扫描电子显微镜(SEM)、X-射线光电子能谱(XPS)和原子力显微镜(AFM)分析在征Au(111)膜的表面微结构和表面晶格取向的原子图像。实验结果表明,在超高真空的条件下,控制优化实验条件能制备高度取向的Au(111)膜,这在分子自组装技术中起着关键作用,在纳米薄膜材料科学中具有重要意义。 相似文献
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采用电子束蒸发沉积方法制备的Au基片,分别放在0.001M的正丁硫醇、正十二硫醇的纯溶液和混合溶液中,通过化学吸附制备得到自组装单分子层膜。利用原子力显微镜(AFM),对正丁硫醇、正十二硫醇以及两种硫醇混合物在Au基片上的自组装单分子层膜进行了观察研究。从原子分辨的AFM图像观察三种分子膜的周期性六边形等间距排列图像,最邻近间距分别为0.50nm±0.02nm、0.52nm±0.03nm和0.51nm±0.03nm,与Au(111)晶格表面上的间距为0.50nm的R30°吸附层的间距一致。用AFM观察测量出了膜的厚度分别为0.67nm、1.60nm和1.32nm。 相似文献
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