基于RCS的空间目标识别技术

讨论了利用目标雷达散射截面(RCS)进行空间目标识别的问题.阐明了RCS测量机理,介绍了国内外在利用RCS测量信息进行空间目标姿态判别、尺寸估计及个体识别方面的研究进展,并提出了RCS测量信息在空间目标识别领域的应用方向.     

优化算法在手征媒质中的应用研究

由于手征媒质的手征参数可调性,使它成为一种新型的吸波材料,在减缩目标雷达散射截面方面有巨大的应用前景.文中运用传输线法分析了金属衬底上涂敷手征媒质的反射特性,计算了手征参数对手征媒质反射特性的影响;然后基于非均匀有理B样条建模,采用物理光学法比较了目标涂敷常规吸波材料与手征媒质时的雷达散射截面,结果说明了手征媒质减小反射电磁波的效果更好;最后运用粒子群算法和模拟退火算法在给定的范围内优化手征参数,并计算了在此参数下目标的散射截面.     

电磁材料弧形界面裂纹SH波散射的远场特性

分析了电磁材料弧形界面裂纹SH波散射的远场特性。根据波函数展开法将所研究的混合边值问题转化为对偶级数方程组,通过引入位错密度函数,进一步将问题归结为第一类Cauchy奇异积分方程。在此基础上,导出了远场散射模式（SFFP）和散射截面（SCS）的表达式,并详细考查了入射方向、裂纹张开角及载荷组合对远场散射特性的影响。研究成果对电磁构件的设计及电磁材料内裂纹的识别具有理论与应用价值。     

基本散射体的散射规律

基本散射体的散射规律是研究复杂散射体雷达截面的基础。本文综合许多作者的意见，给出了基本散射体雷达截面的一般表示式，复杂散射体的雷达截面可用这些表示式的组合写出。这些表示式显示了散射体的雷达截面随各参量（例如波长和尺寸）的改变规律。     

隐身目标雷达截面的缩比测量及反演计算

隐身雷达目标的电磁散射缩比测量是研究飞行器隐身、反隐身技术发展过程中不可缺少的组成部分。根据相似性原理，首先提出能与全尺寸原型目标具有相同散射特性的缩比测量应该具备的条件；然后提出当实际的缩比测量偏离这些条件时对雷达散射截面的影响。依照本文提供的原理和方法，可从不满足理想缩比条件的模型测量值推算原型的雷达散射截面。     

反射器天线的散射截面积

导出了任意旋转凹曲面天线的散射场计算公式。单反射面的镜面场由几何光学法(GO)得到,非轴向绕射场由一致性绕射理论(UTD)得到,轴向绕射场由等效电磁流法得到。对于卡塞格伦等型式的双反射器天线,总散射场应该是主、副面绕射场,副面镜面场和反射绕射场等各项的相位相加。文中给出了某些天线单站散射截面(RCS)的计算和实验结果。这种方法很容易推广到双站情况。     

有限封闭空间中物体表面微波实时成象

有限封闭空间中物体表面微波成象是电磁学和雷达技术中最重要的研究课题之一。本文讨论了具有三维粗糙表面的物体处于有限封闭空间中的微波实时成象问题,提出了一个实际可行的成象方法。在假定粗糙表面的高度函数服从正态分布的情况下,本文推出了粗糙表面微皮软射截面公式,给出了计算机计算结果并对该结果进行了讨论。应用FM-CW成象系统进行实验,获得了粗糙表面散射特性曲线及二维截面图形。     

天线RCS减缩技术研究的新进展

简要回顾了国内天线ＲＣＳ减缩技术研究的情况，介绍了作者近年来在此方面取得的成果。在对各种降低天线ＲＣＳ技术途径研究的基础上，通过对天线散射机理的理论分析和实验研究，提出了由抑制模式项散射而降低天线ＲＣＳ的模式项消去法天线ＲＣＳ减缩技术，并就此技术在几种反射面天线上的应用进行了探讨。在典型双反射面天线上应用此项技术所得的实验结果表明，采用此项技术以后天线的ＲＣＳ可以降低２０ｄＢ左右，而天线的增益下降不到１ｄＢ。微带天线将是解决天线ＲＣＳ问题的发展方向，文中也就此问题作了讨论。     

用Monte Carlo法和泛函求目标的RCS

物理光学法是一种有效的分析目标散射特性的方法,但它存在着计算量大和精度低的不足。本文提出了用Monte Carlo法减少计算量和由泛函的概念导出散射场的稳定公式,以改善物理光学法的结果。本文对圆柱和椭球体进行了计算,数值结果表明:采用新方法后,计算量大大减少,数值结果精度有所提高。     

涂层目标RCS计算中的数值考虑

对于用联合场积分方程法(CFIE)计算旋转对称涂层目标(CBOR)的散射面(RCS)时所涉及的主要元素做了进一步研究,导出了某些对称关系和奇偶特性,利用这些关系和特性简化了计算过程,从而大幅度提高了计算效率,使这种方法更加便于工程应用。