| SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型 |
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| 引用本文： | 张金林,沈绪榜,陈朝阳. SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型[J]. 电子科技大学学报(社会科学版), 2007, 0(3) |
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| 作者姓名： | 张金林 沈绪榜 陈朝阳 |
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| 作者单位： | 华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室，华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室，华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室 武汉430074，武汉430074 西安微电子技术研究所西安710054，武汉430074 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(90207020) |
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| 摘 要： | 在对互联总线信号完整故障发生原理进行详细分析的基础上,提出了一种有效的互联总线信号完整性故障激励检测模型——HT模型。仿真结果表明该模型在故障覆盖率和测试矢量的有效性方面分别比已有的最大激励串扰故障模型和多重跳度模型有较大的改善。
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| 关 键 词： | 信号完整性故障模型 IP核间互联总线 片上系统 |
A New Fault Model for Testing Signal Integrity in SoCs |
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| ZHANG Jin-lin,SHEN Xu-bang,,CHEN Chao-yang. A New Fault Model for Testing Signal Integrity in SoCs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China(Social Sciences Edition), 2007, 0(3) |
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| Authors: | ZHANG Jin-lin SHEN Xu-bang CHEN Chao-yang |
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| Affiliation: | ZHANG Jin-lin1,SHEN Xu-bang1,2,CHEN Chao-yang1 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | half transition model signal integrity system-on-chip |
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