| 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法 |
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| 引用本文： | 张映敏,罗正祥,羊恺,张其劭. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法[J]. 电子科技大学学报(社会科学版), 2001, 0(6) |
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| 作者姓名： | 张映敏 罗正祥 羊恺 张其劭 |
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| 作者单位： | 电子科技大学微波测试中心 成都610054(张映敏，罗正祥，羊恺)，电子科技大学微波测试中心 成都610054(张其劭) |
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| 基金项目： | 国家超导中心研究基金资助项目 |
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| 摘 要： | 介绍一种工作在12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻sR测试系统,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻sR进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于单片φ50.8 mm较大超导薄膜的无损伤测试,整个测试系统体积小、操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点。
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| 关 键 词： | 高温超导薄膜 微波表面电阻 介质谐振器 品质因数 |
A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films |
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| Zhang Yingmin Luo Zhengxiang Yang Kai Zhang Qishao. A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China(Social Sciences Edition), 2001, 0(6) |
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| Authors: | Zhang Yingmin Luo Zhengxiang Yang Kai Zhang Qishao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | high Tc super-conductive microwave surface resistance sapphire resonator quality factor |
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