CdZnTe化合物半导体探测器在X射线荧光技术中的应用

本文主要介绍CdZnTe探测器,及其在X射线荧光技术中的应用研究。XRF能谱分析的关键是能谱的峰位和净强度,进行能谱解析即是要正确识别谱峰、确定峰位和本底,从而说明CdZnTe探测器能够代替NaI(Tl)、Si(Li)、HpGe等传统探测器而应用于X射线荧光技术的实用性。