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氮化铝(AlN)薄膜的光学特性研究
引用本文:
韩莹,庄松林.氮化铝(AlN)薄膜的光学特性研究[J].上海理工大学学报(社会科学版),1999(1):21-24.
作者姓名:
韩莹
庄松林
摘 要:
研究了宽禁带Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体氮化铝(A1N)薄膜的折射率及其热光特性,采用棱镜--薄膜硝装置和自动温控光波导测试仪,测出不同温度不氮化铝薄膜的波导特性,利用迭代法可得到A1N的折射率与温度变化的关系,并首次没得了A1N薄膜的热光特性。
关 键 词:
折射率
光学特性
薄膜
氮化铝
半导体
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