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基于"透明"神经网络的模拟电路故障诊断
引用本文:刘利强 李春明. 基于"透明"神经网络的模拟电路故障诊断[J]. 内蒙古工业大学学报, 2004, 23(3): 192-196
作者姓名:刘利强 李春明
作者单位:刘利强(内蒙古工业大学信息工程学院,呼和浩特,010062);李春明(内蒙古工业大学信息工程学院,呼和浩特,010062)
基金项目:内蒙古自治区自然科学基金资助项目(No.200208020204);内蒙古工业大学青年基金项目(No.200212)
摘    要:本文通过分析BP神经网络用于模拟电路故障诊断时的缺点,提出了一种新的神经网络.称为“透明”神经网络(TANN).然后将TANN用于模拟电路子网络级故障诊断.并通过实例验证了该诊断方法的有效性.

关 键 词:子网络 故障诊断 BP神经网络 “透明”神经网络(TANN)
文章编号:1001-5167(2004)03-0192-05
修稿时间:2004-09-21

ANALOG CIRCUIT FAULT DIAGNOSIS BASED ON "TRANSPARENT" NEURAL NETWORK
LIU Li-qiang,LI Chun-ming. ANALOG CIRCUIT FAULT DIAGNOSIS BASED ON "TRANSPARENT" NEURAL NETWORK[J]. Journal of Inner Mongolia Polytechnic University(Social Sciences Edition), 2004, 23(3): 192-196
Authors:LIU Li-qiang  LI Chun-ming
Abstract:In this paper,the defects of BP neural network in analog circuit fault diagnosis are discussed and a "transparent" neural network (TANN) is introduced.The TANN is then used to diagnose analog circuit faults at sub-network level.Validity of this method is testified by experiments.
Keywords:sub-network,fault diagnosis,BP neural network,"  transparent"   neural network(TANN)
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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