基于质量损失函数的可变抽样区间X-R图优化设计 |
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作者姓名: | 张斌 周伟灿 费文龙 |
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作者单位: | 南京信息工程大学,数理学院,南京210044 |
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基金项目: | 南京信息工程大学科研基金资助项目(90206) |
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摘 要: | 文章针对过程异常导致均值和标准差同时发生漂移的情况,考虑田口质量损失、误报警损失、维修成本和抽样成本等,构建了综合损失模型,提出了可变抽样区间X-R图优化设计方法。通过选择最优样本容量、长短抽样区间、X和R图的控制限和警戒限,使单位时间平均损失最小。数值计算说明了模型的使用方法;灵敏度分析研究了均值漂移参数和标准差的大小对控制图优化设计的影响。
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关 键 词: | 控制图 可变抽样区间 损失函数 |
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