| 常见扫描电子显微镜图像的缺陷和解决方法 |
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| 引用本文： | 唐晓山,屈菊兰.常见扫描电子显微镜图像的缺陷和解决方法[J].湛江师范学院学报,2005,26(3):123-125. |
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| 作者姓名： | 唐晓山 屈菊兰 |
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| 作者单位： | 湛江师范学院,电镜室,广东,湛江,524048 |
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| 摘 要： | 在论述了荷电效应、损伤、边缘效应这三种常见的扫描电子显微镜图像缺陷的基础上,分析了其产生的原因及解决方法,并展示了其结果.
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| 关 键 词： | 扫描电子显微镜 荷电效应 损伤 边缘效应 |
| 文章编号： | 1006-4702（2005）03-0123-03 |
| 收稿时间： | 2005-03-13 |
| 修稿时间： | 2005年3月13日 |
Defeds and Improvesent of Images from Scanning Electronic Microscope |
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| TANG Xiao-shan,QU Ju-lan.Defeds and Improvesent of Images from Scanning Electronic Microscope[J].Journal of Zhanjiang Normal College,2005,26(3):123-125. |
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| Authors: | TANG Xiao-shan QU Ju-lan |
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| Abstract: | We discuss the defeds of the images of the Scanning Electronic Microscope, including electric charge effect, damage, edge effect, analyze the reasons for the defects and suggest some solutions. |
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| Keywords: | scanning electron microscope electric charge effect Damnify Edge Effect |
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