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| X射线荧光光谱法测定沸石分子筛中氧化物 | |
| 作者姓名： | 张现珍 于先进 姚晓雪 |
| 作者单位： | 山东理工大学化学工程学院;内蒙古第三地质矿产勘查开发院 |
| 基金项目： | 国土资源部公益性行业专项基金(201211062) |
| 摘 要： | 采用混合溶剂高温熔融制备样品,消除分子筛样品的粒度效应、矿物效应,用Axios X射线荧光光谱仪测定分子筛中重要组成元素氧化物的含量,用理论α系数法进行基体效应校正,通过对方法准确度和精密度的实验验证,表明该方法准确度和重现性均能满足企业生产样品的分析测试要求。 |
| 关 键 词： | X射线荧光光谱 沸石分子筛 氧化物含量 |
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