非制冷红外焦平面读出电路的设计与测试分析

随着我国信息技术发展脚步的不断加快,红外成像技术也得到了相关部门的高度关注。由于红外辐射是不可见的,因此对其强度的测量便产生了困难。为此,相关学者便展开了对红外成像系统的研究。本文主要对非制冷红外焦平面读出电路的设计与测试进行分析,以此来为今后红外成像系统的研究提供一定的参考依据。