应用于不同类型FPGA的多模式调试系统

随着超大规模集成电路(VLSI)以及片上系统(SoC)设计的日益复杂,基于现场可编程门阵列(FPGA)的硬件仿效成为了必要环节。为解决逻辑设计下载到基于FPGA的硬件仿效器后内部节点不可视的问题,提出一种调试系统,该调试系统使用了RTL级植入调试逻辑的调试方法,统一的用户界面和软件侧底层接口,并提供了ELA模式、Scan模式和Snapshot模式。所有模式均使用统一的外部接口,使得调试系统同时适用于Altera和Xilinx的FPGA。实验结果表明,与SignalTap和ChipScope模式相比,ELA模式消耗几乎相同的资源,而Scan模式和Snapshot模式会消耗更少的FPGA资源。