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| 一个基于神经网络的测试生成系统 | |
| 引用本文： | 陈朝阳,陈光,虞厥邦.一个基于神经网络的测试生成系统[J].电子科技大学学报(社会科学版),1997(1). |
| 作者姓名： | 陈朝阳 陈光 虞厥邦 |
| 作者单位： | 电子科技大学自动化系 |
| 基金项目： | 国家“八五”重点科研项目 |
| 摘 要： | 介绍了一个基于组合电路的Ｈｏｐｆｉｅｌｄ神经网络模型的测试生成系统，系统中运用概率松驰搜索算法求解给定故障的测试矢量。实验结果表明了该系统的可行性 |
| 关 键 词： | 测试生成 组合电路 神经网络 概率松驰 |
A Test Generation System Based on Neural Networks |
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| Chen Chaoyang,Chen Guangju,Yu Juebang.A Test Generation System Based on Neural Networks[J].Journal of University of Electronic Science and Technology of China(Social Sciences Edition),1997(1). | |
| Authors: | Chen Chaoyang Chen Guangju Yu Juebang |
| Abstract: | |
| Keywords: | test generation combinational circuit neural network probabilistic relaxation |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |