| 一个基于神经网络的测试生成系统 |
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| 引用本文： | 陈朝阳,陈光,虞厥邦. 一个基于神经网络的测试生成系统[J]. 电子科技大学学报(社会科学版), 1997, 0(1) |
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| 作者姓名： | 陈朝阳 陈光 虞厥邦 |
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| 作者单位： | 电子科技大学自动化系 |
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| 基金项目： | 国家“八五”重点科研项目 |
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| 摘 要： | 介绍了一个基于组合电路的Ｈｏｐｆｉｅｌｄ神经网络模型的测试生成系统，系统中运用概率松驰搜索算法求解给定故障的测试矢量。实验结果表明了该系统的可行性
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| 关 键 词： | 测试生成；组合电路；神经网络；概率松驰 |
A Test Generation System Based on Neural Networks |
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| Chen Chaoyang Chen Guangju Yu Juebang. A Test Generation System Based on Neural Networks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China(Social Sciences Edition), 1997, 0(1) |
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| Authors: | Chen Chaoyang Chen Guangju Yu Juebang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | test generation combinational circuit neural network probabilistic relaxation |
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