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| 半导体器件失效典型案例分析 | |
| 引用本文： | 朱超.半导体器件失效典型案例分析[J].引进与咨询,2006(1). |
| 作者姓名： | 朱超 |
| 作者单位： | 福建实达电脑设备有限公司 福建福州350000 |
| 摘 要： | 本文以发生在实际工业生产当中的具体半导体失效案例剖析了其失效模式、失效机理的分析。 |
| 关 键 词： | 半导体 电流过应力 电迁移品质失败成本 早期失效 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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