产线局部放电测试设备抗干扰分析及对策 |
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引用本文: | 黄诗翰.产线局部放电测试设备抗干扰分析及对策[J].决策探索,2019(3). |
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作者姓名: | 黄诗翰 |
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作者单位: | 株洲中车时代电气股份有限公司半导体事业部 |
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摘 要: | 局部放电测试为高压IGBT生产过程中十分重要的检测手段,但因其测试原理的特殊性又极易受到外界的干扰。而在生产线上主要的干扰来源则为其他电气设备的使用,因此如何消除或抑制其他的电气设备所带来的干扰是需要解决的难题。文章以实际生产过程中所遇到的清洗设备产生的干扰为例,对干扰信号特征及传播途径进行分析,并最终通过电源改造消除了信号干扰。
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