首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

a-Si:H FET特性理论新分析及验证
引用本文:惠恒荣,卢波.a-Si:H FET特性理论新分析及验证[J].电子科技大学学报(社会科学版),1989(5).
作者姓名:惠恒荣  卢波
作者单位:电子科技大学微电子科学与工程系,电子科技大学微电子科学与工程系
摘    要:本文提出运电容分压原理来解决α-Si:H MOSFET 栅压φ_(GS)与表面电势φ_S 关系的新方法,分析其转移特性和输出特性,唯象地解释了“积累”工作模式的源漏电流饱和现象.根据理论分析,设计并制出α-Si:H MOS FET 样品,测试结果表明理论与实验能较好吻合.

关 键 词:氢化非晶硅  能带  定域态  场效应晶体管  电容分压原理

NEW ANALYSIS OF AMORPHOUS SILICON FET AND EXPERIMENTAL PROOF
Hui Hengrong Lu Bo.NEW ANALYSIS OF AMORPHOUS SILICON FET AND EXPERIMENTAL PROOF[J].Journal of University of Electronic Science and Technology of China(Social Sciences Edition),1989(5).
Authors:Hui Hengrong Lu Bo
Institution:Dept.of Microclcctronic Science and Technology
Abstract:
Keywords:amorphous hydrogenated silicon  energy band  Lacalized state  field effect transistor  principle of capacitive divider
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号