| 测试产生的神经网络方法及若干问题研究 |
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| 引用本文： | 潘中良,陈光. 测试产生的神经网络方法及若干问题研究[J]. 电子科技大学学报(社会科学版), 1997, 0(3) |
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| 作者姓名： | 潘中良 陈光 |
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| 作者单位： | 电子科技大学ＣＡＴ室 |
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| 基金项目： | 国家“八五”重点科技攻关项目 |
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| 摘 要： | 介绍了在微机上开发的一种基于神经网络的测试生成系统结构，详细讨论了系统中各模块的实现方案。从提高效率的角度，对电路测试生成中神经网络这一方法的发展及今后须解决的问题做了讨论
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| 关 键 词： | 数字电路；测试图形产生；神经网络；电路结构分析；优化算法 |
Neural Network Method of Test Pattern Generation and Some Problems in Design |
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| Pan Zhongliang Chen Guangju. Neural Network Method of Test Pattern Generation and Some Problems in Design[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China(Social Sciences Edition), 1997, 0(3) |
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| Authors: | Pan Zhongliang Chen Guangju |
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| Affiliation: | CAT Lab.UEST of China Chengdu 610054 |
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| Keywords: | test pattern generation neural network constrained network optimization algorithms |
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