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| 六西格玛管理的量测系统分析 | |
| 作者姓名： | 何晓群 方何 |
| 作者单位： | 中国人民大学六西格玛质量管理研究中心 |
| 摘 要： | 通常用来表征量测数据质量高低的统计指标是偏倚和变差。偏倚是指多次量测结果的平均值与其基准值的差,其中基准值可以通过更高级别的量测设备进行多次量测,取其平均值来确定。变差是指多次量测结果的变异程度,常用量测结果的标准差表示,也可用过程变差PV表示,过程变差是指一定 |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |
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