功率循环试验中准确监控饱和压降的方法研究

评估IGBT功率循环试验中器件失效的判据有器件饱和压降Vcesat、热阻Tth、门极漏电流Ige等,而在功率循环试验中,为达到恒定结温差的目标,电流、器件温度等诸多因素均在发生变化,此时测量的饱和压降无法准确反映出因键合线脱落、焊层退化等因素造成压降变化,因此不能作为器件失效的判据。文中提出了一种在功率循环试验中准确监控饱和压降的方法,通过记录初始的电流、器件结温及Vcesat值,在一定的循环试验周期后,将电流和结温调整到初始值,然后记录饱和压降作为失效判据。试验表明,该方法可以消除电流和结温变化引起的压降变化,准确反映因键合线脱落、焊层退化等因素造成的压降变化。