|
|||||
|
|
| 静电放电抗干扰度测试仪校准方法探讨 | |
| 引用本文： | 李国强.静电放电抗干扰度测试仪校准方法探讨[J].才智．人事人才,2010(16). |
| 作者姓名： | 李国强 |
| 作者单位： | 天津市电子仪表实验所; |
| 摘 要： | 当今很多企业中用于检测静电放电抗干扰度的测试仪器越来越多,这与现在电子技术的发展息息相关,尤其是现代电子产品大量采用微电子器件,为了确保产品和系统的可靠性,对静电放电危害性问题的考虑显得尤其重要。因此,被广泛使用静电放电干扰度测试仪器的校准就成为了核心问题。 |
| 关 键 词： | 干扰度 示波器 微电子器件 测试仪器 静电放电 电压波形 校准方法 核心问题 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |