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单片机在多参数综合测控系统中的应用
作者姓名:王志海
作者单位:广东省机械高级技工学校
摘    要:本文叙述了一种多参数综合测控方法,即应ATmega128单片机通过传感器技术,对植物的叶层温湿度、冠层温度、植物生长环境的土壤温度、土壤水分、风速、光照度以及大气和叶层的二氧化碳浓度进行测量,并对测量的数据进行简单的处理和分析。

关 键 词:ATmega128  多参数  综合测控
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