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低熔点焊料对SEM管硅靶污染的研究
引用本文:成建波 ,冉启均 ,黄国高.低熔点焊料对SEM管硅靶污染的研究[J].电子科技大学学报(社会科学版),1982(2).
作者姓名:成建波  冉启均  黄国高
摘    要:本文在大量实验的基础上。证实了从低熔点焊料中挥发出的PbO、ZnO在碱金属(K、Na、Cs)气氛的作用下,还原出Pb和Zn,这些Pb和Zn对电子轰击硅靶靶面造成了严重的污染。以此为根据,建立了导致污染的数学物理模型,用此模型能很好地解释所有的污染现象,揭示了这一污杂的本质。最后,给出了解决低熔点焊料对SEM管硅靶污染的方法。

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